Rigaku Ultima IV - многоцелевая дифракционная система

Назначение

исследования в материаловедении, разработках в области полупроводников, нанотехнологий
обеспечение качества в производстве

Свойства

Реализуется с помощью классичекой фокусируещей схемы Брегга-Брентано, а также с использованием современной технологии параллельного пучка.

Опции и приставки

1. Модуль формирования параллельного пучка
Параллельный рентгеновский пучок формируется многослойным параболическим зеркалом (запатентованная технология СВО - cross beam optics). Модуль формирования такого пучка всегда установлен, отъюстирован и готов к работе - выбор параллельной или фокусирующей геометрии анализа осуществляется одним движением руки.
2. Выбор материала (Cu) и типа рентгеновской трубки
3. База данных ICDD
4. Увеличение радиуса гониометра с 185 до 285 мм. Увеличивает разрешающую способность дифрактометра
5. Щели переменной ширины. Позволяют сохранять неизменной облучаемую поверхность образца.
6. Германиевый двойной монохроматор (220) для первичного пучка / Ge (220)
7. 2-bounce monochromator
8. Модуль малоуглового рассеяния рентгеновских лучей SAXS / SAXS (Smoll angle X-ray scattering) unit
9. Установка рентгеновской оптики для анализа тонких пленок / Upgrade to Thin-film optics. Многофункциональная приставка для анализа тонких пленок / Multi purpose thin-film attachment
10. Модуль для анализа в плоскости образца In-Plane / In-Plane
11. Графитовый монохроматор для трубки с медным анодом для оптики параллельного пучка и фокусирующей конфигурации / Graphite monochromator Cu (Flexible)
12. Многофункциональная приставка для анализа текстур и остаточных напряжений с поворотными столиками / Multi purpose attachment MPA-IV χ(kai)- φ(phi)- Z stage13. Модуль для микроанализа, поворотный столик, управляющая программа / Small Area Measurement Unit, X-Y-Z-phi stage, CCD camera, Small Area Optics
14. Высокоскоростной двумерный детектор
15. Дифференциальный сканирующий калориметр / XRD-DSC
16. Высокотемпературная приставка
17. Среднетемпературная приставка (-180 - 300°С)
18. Низкотемпературные приставки (-4К, -12К)
19. Автосменщик образцов
20. Держатели образцов различного размера и материала
21. Теплообменники замкнутого цикла для охлаждения трубки
22. Оборудование для пробоподготовки
23. Программное обеспечение:

качественный и количественный анализ
база данных дифрактограмм ICDD PDF-2 или PDF-4
анализ Ритвельда
анализ кристалличности
анализ остаточного аустенита
анализ остаточных напряжений
построение прямых и обратных полюсных фигур. Функция распределения ориентировок